時域分析功能及眼圖功能

在微波射頻領域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時

需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導致測試結(jié)果中包含了測試夾具

的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端

口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。

另外，SNA5000A系列還支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等

參數(shù)進行分析。

材料介電特性的精確表征和測量

鼎陽科技材料測量的全套解決方案，包括SNA系列矢量網(wǎng)絡分析儀、MT材料測量分析軟件、

KWR42A波導校準件和夾具，可以幫助用戶高效、精確的表征和測量材料的介電特性。SNA

系列矢量網(wǎng)絡分析儀兼具出色的測量完整性和經(jīng)濟適用性，通過測量向?qū)е敢脩敉瓿刹牧?/span>

測量過程，測量結(jié)果可用多種格式繪制，幫助用戶更好地分析測量結(jié)果，非常適合實驗室、

研究機構(gòu)和教育教學環(huán)境。